광학 여기 락인 열화상 기술, OTvis

알림

OTvis를 이용한 검사는 어떻게 진행되나요?

OTvis 시스템은 광학적으로 여기된 락인(Lock-in) 열화상 기술을 활용합니다.

이는 대상물 표면을 변조된 광원(예: 할로겐 램프)으로 여기하는 비접촉식 검사 방법입니다.

박리나 내포물 같은 내부 결함은 발생하는 열 흐름을 방해하여 열 패턴을 생성하며, 이 패턴은 적외선 카메라로 포착되어 소프트웨어를 통해 분석됩니다.

이 방법은 특히 넓은 표면과 복잡한 형상을 빠르고, 고감도로, 깊은 곳의 결함을 검사하는 데 적합합니다.

OTvis 검사 프로세스

1. 여기(Excitation)

주기적으로 변조된 광원(예: 할로겐)이 표면에 열파(Thermal waves)를 생성합니다.

2. 열 전파

열이 재료 내부로 전도되는 과정에서 결함이 존재하면 열 거동이 변화하게 됩니다.

3. 적외선 영상 획득

동기화된 IR 카메라가 이러한 열 응답을 포착합니다.

4. 신호 처리

푸리에 변환(Fourier Transformation)을 통해 위상(Phase) 이미지를 생성하며,
이는 표면 상태의 영향을 받지 않고 결함을 선명하게 보여줍니다.

OTvis 구성 요소 :

- OTvis 램프 컨트롤러

- 삼각대가 포함된 할로겐 램프

- 장치 제어용 소프트웨어 모듈

추가 필요 구성 요소:

- 적외선 카메라 (LWIR or MWIR)

- ESG 신호 발생기(단, 신호 발생기가 있는 OTvis 3600 모델은 제외)

- edevis DisplayImg 소프트웨어

- 테스트 벤치/핸들링 시스템(옵션, 자동화 검사 시)

이 시스템은 연구실 환경의 실험뿐 아니라 자동화 인라인 검사 환경에서도 사용할 수 있습니다.