ITvis 적용 분야

• 금속 부품의 균열 검사 - 빠르고 정밀하며 비접촉 방식
• 생산 및 유지보수 환경에서 용접부 검사 및 용접 결함 검출
• 솔더링 및 접합부의 결합 상태 및 접착 불량 검사
• 랩(Lap) 결함 및 표면 근처의 구조적 변화 탐지
• 매우 짧은 사이클 타임이 요구되는 대량 생산 인라인 검사
• 하이브리드 또는 구조 부품의 접합부 품질 검사

    ITvis 장점

• 비접촉 및 비파괴 검사
• 객관적이고 신뢰도 높은 결과
• 인라인 및 자동화 가능
• 매우 짧은 검사 시간

   사양

ITvis 시스템은 MHF(중고주파)와 HF(고주파)의 두 가지 주파수 범위로 나눌 수 있습니다.
주요 차이점은 작동 주파수, 즉 유도 전류가 재료 내부로 침투하는 깊이가 달라진다는 점입니다.

MHF 시스템은 더 깊은 구조물 검사에 적합한 반면, HF 시스템은 표면 근처의 결함을 고해상도로 검출 가능하게 합니다.
적절한 주파수 범위를 선택하는 것은 검사 속도와 감도 모두에 직접적인 영향을 미칩니다.

• MHF (중고주파, Medium High Frequency)

• HF (고주파, High Frequency)

   모듈형 시스템

ITvis 구성 요소 :

- ITvis 유도 발생기 (Induction generator)

- 장치 제어용 소프트웨어 모듈

- 인덕터 (적용 분야에 따라 별도 주문 필요)

추가 필요 구성 요소:

- 적외선 카메라 (LWIR 또는 MWIR)

- ESG 신호 발생기

- edevis DisplayImg 소프트웨어

- 테스트 벤치/핸들링 시스템(옵션, 자동화 검사 시)

이 시스템은 연구실 환경의 실험뿐 아니라 자동화 인라인 검사 환경에서도 사용할 수 있습니다.

   평가 소프트웨어

DisplayImg Professional

• 레이저 유닛 및 카메라 제어
• 위상 이미지 분석 및 푸리에(Fourier) 평가
• 프로젝트 관리, API 통합
• 모든 edevis 여기 유형과 호환 가능

DisplayImg Automation

• 유연한 모듈형 시스템
• 능동 및 수동 열화상
• 자동 데이터 수집
• OPC 연동 및 SQL 데이터 추출
• 바코드 /DMC 스캐너

   ITvis 적용 가능한 제품

      클릭시 edevis 공식 사이트에서 더욱 자세한 내용을 보실 수 있습니다.